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400-7075-800簡要描述:工業(yè)高低溫循環(huán)沖擊實驗設(shè)備主要用于 對電工 、電子器件 及其 他產(chǎn)品 、零配件 及原材料 進行 高低溫試驗 溫度 冷熱 沖擊試驗 的高低溫箱 專用設(shè)備 ,可滿足電子電工 產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗 -高溫 試驗 /低溫試驗 /溫度變化試驗 /高低溫試驗 沖擊試驗 /溫度 沖擊試驗 /冷熱沖擊試驗 。
工業(yè)高低溫循環(huán)沖擊實驗設(shè)備主要用于 對電工 、電子器件 及其 他產(chǎn)品 、零配件 及原材料 進行 高低溫試驗 溫度 冷熱 沖擊試驗 的高低溫箱 專用設(shè)備 ,可滿足電子電工 產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗 -高溫 試驗 /低溫試驗 /溫度變化試驗 /高低溫試驗 沖擊試驗 /溫度 沖擊試驗 /冷熱沖擊試驗 。
工業(yè)高低溫循環(huán)沖擊實驗設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn):
1、GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件 2、GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件3、GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)4、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)5、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)6、GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)7、GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗8、GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗9、GJB1
(分別是寬×高×深) (mm)
LQ-TS-50內(nèi)箱尺寸:350×350×400外箱尺寸:1560×1750×1440。
LQ-TS-80內(nèi)箱尺寸:500×400×400外箱尺寸:1700×1800×1440。
LQ-TS-100內(nèi)箱尺寸:600×400×400外箱尺寸:1800×1800×1440。
LQ-TS-150內(nèi)箱尺寸:600×500×500外箱尺寸:1800×1900×1540。
LQ-TS-250內(nèi)箱尺寸:700×600×600外箱尺寸:1900×2000×1640。
LQ-TS-480內(nèi)箱尺寸:800×800×750外箱尺寸:2020×2250×2150。
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