連接器冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子電器、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工廠BGA、PCB基板、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料。

連接器冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為分為高溫箱常溫箱、低溫箱三部分,斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物通過高溫-常溫-低溫循環(huán)移動(dòng)，以達(dá)到冷熱沖擊測(cè)試目的。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB 10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T10589- 1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.2-2001高溫

GB/T 2423.1-2001低溫

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2- 1:2007)低溫試驗(yàn)方法Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗(yàn)方法Bb

GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)

GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)

JIS C60068-2-2-1995試驗(yàn)B:干熱

JIS C60068-2-1-1995試驗(yàn)A:低

JIS C60068-2-1-1995試驗(yàn)A:低溫

JESD22-A103-C-2004高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)

JESD22-A119-2004低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)

JESD22-A119-2004低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)

MIL-STD-810F-501.4高溫

MIL-STD883C方法1004.2

MIL-STD810方法507.2 程序3

MIL-STD-810F-502.4低溫

IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A冷

GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;

GB/T2423.22- 1989溫度變化試驗(yàn)N;

標(biāo)GJB150.3-86;

標(biāo)GJB150.4- 86;

標(biāo)GJB150.5- -86;

GJB150.5-86溫度神擊試驗(yàn);

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);

SJ/T101 87-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱一-箱式;

SJ/T101 86-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱一二箱式;

滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14試驗(yàn)方法N溫度變化;

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;

GB/T 2423.22-2002溫度變化;

QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)-般規(guī)則;

EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。

IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_ _干熱

IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A冷

IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B _干熱