芯片冷熱沖擊測(cè)試箱是一種模擬自然界溫度急劇變化的試驗(yàn)設(shè)備,能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境,從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格,將提供給您預(yù)測(cè)和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。通過(guò)它能測(cè)試產(chǎn)品在溫度快速變化的過(guò)程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害,從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問題,進(jìn)而對(duì)其改進(jìn)優(yōu)化。設(shè)備用途:該測(cè)試箱主要是用于電子電器零組件...